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二次离子质谱仪

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二次离子质谱仪

二次离子质谱仪

二次离子质谱仪是用来检测材料的一种仪器,即是利用离子束把待分析的材料从表面溅射出来,然后再检测出离子组分并进行质量分析,二次离子质谱仪是对微粒进行同位素分析的有力工具,是利用质谱法分析初级离子入射靶面后,溅射产生的二次离子而获取材料表面信息的一种方法。
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PHI nanoTOF II飞行时间质谱仪™

PHI nanoTOF II飞行时间质谱仪™

  • 品牌: 日本Ulvac-Phi
  • 型号: PHI nanoTOF II
  • 产地:日本
  • 供应商:高德英特(北京)科技有限公司

    欢乐赛车 TRIFT-V nanoTOF II(三次聚集飞行时间)二次离子质谱仪是超灵敏的表面分析技术,可检测表面分子成分和分布,元素及其同位素。所有元素和同位素,包括氢都可以用飞行时间二次离子质谱分析。由初级脉冲离子束轰击样品表面所产生的二次离子,经飞行时间分析器分析二次离子的荷质比,从而得知样品表面信息。PHI nanoTOF IITM是第五代SIMS仪器,该仪器具有独特的专利飞行时间(TOF)分析仪,它拥有市场上TOF-SIMS仪器中最大的角度和能量接收范围,它使用了具有优良离子传输能力的三级聚焦半球形静电分析器,实现了高空间分辨率和质量分辨率。PHI nanoTOF IITM还具有很高的成像能力,可以表征形貌复杂的样品而没有阴影效应。                                                                                                                                              A)                                                                      B)         图1 –A)PHI nanoTOF IITM  及B)二次离子分离示意图 特点:立体收集角度大和深景深:二次离子以不同的初始能量和角度从样品表面飞出,因此,即使是质量完全相同的离子,在分析仪内的飞行时间也会产生差异,飞行时间差是导致质量分辨率变差的原因之一。 nanoTOF Ⅱ采用的是三重聚焦静电分析仪(TRIFT型),可以同时矫正由初始能量和发射角的差异而发生的飞行时间差。TRIFT型分析仪的最大的优势,就是同时实现了高质量分辨率和高检测灵敏度,并且成像没有阴影。                                                                              图2(a)不同飞出角度的二次离子飞行轨迹示意图(b)断裂陶瓷截面示意图及二次离子分布图 同时实现高空间及高能量分辨模式:nanoTOF Ⅱ安装了新开发的离子枪(对应的源为Bi,Au,Ga),空间分辨率最小能达到70纳米(Bi3++)。此外,在新设计的脉冲压缩(Bunched)机理下,可采用高质量分辨率模式,实现500纳米或以下(Bi3++)的空间分辨率,其增加了三倍以上的电流密度,同时提高了灵敏度,空间分辨率和质量分辨率。图-3 a)新型二次离子枪图-3 b)旧型号仪器成像图-3 c)nanoTOF II成像视野范围最小可至5微米:下图显示的是在较高的空间分辨率下,PS/PMMA聚合物的成像。传统上来说,聚合物的分子分布结构,只能用AFM观察,但在这里,nanoTOF II也能做到。  低背景和亚稳抑制:nanoTOF II继承了上一代的设计优点,在TRIFT质谱仪中添加了能量过滤器(Energy Slit)来实现对亚稳态离子的抑制(Metastable Rejection) ,从而降低质谱的背景噪音。比较Reflectron型和TRIFT型为基础的质谱仪,明显地看到Reflectron型谱仪由于不具备亚稳抑制功能,其得到图谱背景噪音远高于TRIFT型的谱仪的背景噪音。 图7 -(A)以Reflectron探测到130-140m/z范围的PTFE质谱,在主亚稳峰旁边发现子峰。     (B)以TRIFT探测到130-140m/ z范围的PTFE质谱,二次离子信号不受亚稳离子干扰。 多种离子枪选配实现高精度深度剖析:nanoTOF Ⅱ专用的深度分析溅射的离子枪,既有适用于无机化合物的高灵敏度分析的铯离子枪(适用于负离子分析)和氧离子枪(适用于正离子分析);也有适用于有机物薄膜深度剖析的C60离子枪枪和氩气体团簇(Ar-GCIB)离子枪,可在高的深度分辨率下,实现高灵敏度的深度剖析。整个离子枪的应用范围如图4e所示。图4-a)新型Cs离子枪图4-b):Si/Ge多层膜的深度方向测试结果图4-c)氩气团簇离子枪图4-d)Irganox多层膜的深度方向测试结果 图4-e)各种离子枪的应用范围 FIB-TOF三维深度分布成像:TRIFT分析仪的内在特性和优势是可以通过对FIB铣削坑的垂直型墙直接成像而不必倾斜样品。相对于使用传统的溅射离子源方法,FIB使用已设置的加工程序对样品进行FIB铣削和切片,可获得更深层亚表面特征或缺陷信息。此外,通过使用“切片和视图”的方法可进行TOF-SIMS 3D成像,FIB枪用来对样品进行剖面加工而TOF-SIMS分析每一连续剖面加工层。使用这种方法得到 3D 成像可以最大限度地减少或消除溅射离子束深度剖析带来的潜在困难。而其三维图像重构也可以非常简单,因为样品在FIB加工和TOF-SIMS数据采集期间是不需要移动的。 图5 -(左)CuW合金三维等值面叠加图像:Cu等值面(绿色)和W等值面(蓝色)(右)铜等值面(绿)和W等值面(蓝色)的三维等值面叠加图像  串联质谱MS/MS (有机高分子材料分析必备附件):超过 m/z 200 的分子离子碎片,常规的TOF-SIMS的高质量精度和高质量分辨率不能对特征离子的元素/成分组成提供明确判定;也不能提供清楚的结构信息,包括分子片段中不饱和键的位置。这对于研究高分子添加剂和生物组织剖面尤为重要。专利技术的并行成像串联质谱MS/MS选配可以同时获得MS1和MS2质谱图,图像和3D成像,空间分辨率为200nm。利用1.5keV碰撞诱导解离法,得到MS2数据,可对分子结构进行高效解析。SmartSoftTM-TOF配合WinCadence软件易于操作:nanoTOF II操作软件采用智能化,如‘流’的设计,让用户按照流程顺序,依次完成样品装载,样品定位,设定分析条件,开始图谱采集;并配合可视化的图形界面,形象地展示仪器的各个部件,及仪器当前的运行状况,实时显示仪器的参数。让用户一学就会,一看就懂。图-6 a)SmartSoftTM-TOF用户界面图6- b)WinCadence用户界面 多样化的样品托:·         标准样品托:有两种100mm的正方形样品托,分别用于前后装样。视应用条件选择样品托。·         冷热样品托:可用于对样品加热冷却的样品托,不仅在进样室可加热冷却,在样品台移动时也可使用。·         真空转移装置:能够在客户的手套箱和设备的预抽室之间传递样品,防止样品与大气接触,适用于易于大气反应的样品。nanoTOF II仪器规格:Bi 作为一次离子源时:·         低质量数质量分辨率(m/Δm):硅(28Si+和28SiH+)在12000以上·         高质量数质量分辨率(m/Δm):m/z > 200,在 16,000以上·         有机材料的质量分辨率(m/Δm):PET(104 amu)在12000以上·         最小离子束直径:70纳米(高空间分辨率模式)、0.5μm(高质量分辨率模式)nanoTOF II选配串联质谱MS/MS、氩气团簇离子枪、C60离子枪、铯离子枪、氩/氧离子溅射枪、样品冷却/加热系统、样品高温加热系统、真空转移装置、氧喷射系统、Zalar高速旋转系统、聚焦离子束FIB(Focused Ion Beam)、前处理室、各种样品托、离线数据处理系统、Static SIMS Library等。·         应用:材料领域:聚合物材料(纤维、塑料、橡胶、纸张、树脂涂料等)、金属合金、半导体、硅酸盐陶瓷、纳米镀层、 有机半导体OLED、OPV等。·         研发领域:半导体器件、纳米器件、生物医药、量子结构、能源电池材料等。·         OLED膜层结构:有机膜层成分、分布和结构剖析,高质量离子碎片表征。·         薄膜和涂料:分析有机涂层,有机和无机涂料的成像分布。·         无机及半导体器件:晶圆工艺残渣物,缺陷分析,蚀刻/清洁残留分析,晶圆工艺中微量金属污染物分析;掺杂元素的3D成像分析。·         磁存储器件:介质表面的残留物,来自于工艺的污染物,包括有机和无机物,失效分析,润滑分析。·         药物研究:药物截面成像,新的药物缓释涂层的表征与发展。·         生命科学领域:研究组织和细胞。

二次离子质谱工作站

二次离子质谱工作站

小型二次离子质谱仪

小型二次离子质谱仪

  • 品牌: 欢乐赛车英国Hiden Analytical
  • 型号:
  • 产地:英国
  • 供应商:欢乐赛车北京英格海德分析技术有限公司

    仪器简介:1.适合做多层薄膜的深度分析。 2.很好的、耐用的、普通目的的二次离子质谱仪。 3.方便使用。 4.样品可以手动转换,由于分析速度快所以每天可以分析一定数量的样品。 5.我们的系统可配置快速原子枪,使我们可以轻松处理绝缘的样品。 6.我们还可以做元素成像(就象化学地图)和混合模式扫描,自动测量正、负和中性粒子。 7.我们的系统是典型的超高真空工作台,很容易满足很多其它分析的使用。 结构紧凑,但不损失性能。真正的高性价比。技术参数:质量数范围:300,510或1000amu 分辨率:5%的谷,两个相连的等高峰。 检测器:离子计数检测器,正、负离子检测 检测限:1:10E7 质量过滤器:三级过滤四极杆(9mm杆) 主离子枪: A,氧离子或其它气体,能量到5KeV B,Ga离子枪,能量25KeV(选配) 空间分辨率:A:100~150um B: 50nm 取样深度:2个单分子层(静态) 不受限制(动态) 主要特点: 高灵敏度脉冲离子计数检测器,7个数量级的动态范围 SIMS 成像,分辨率在微米以下 光栅控制,增强深度分析能力 所有能量范围内,离子行程的最小扰动,及恒定离子传输 差式泵3级过滤四极杆,质量数范围至1000amu 灵敏度高 / 稳定的脉冲离子计数检测器 Penning规和互锁装置可提供过压保护 通过RS232、RS485或Ethernet LAN,软件 MASsoft控制

二次离子质谱探针

二次离子质谱探针

  • 品牌: 英国Hiden Analytical
  • 型号: EQS
  • 产地:英国
  • 供应商:北京英格海德分析技术有限公司

    仪器简介:EQS是差式泵式二次离子质谱(SIMS-SecondaryIonMassSpectrometer‘Bolt-On’probe),可分析来自固体样品的二次阴、阳离子和中性粒子。采用最新技术的SIMS探针,便于连结到现有的UHV表面科学研究反应室。技术参数:应用: 静态 /动态SIMS 一般目的的表面分析 整体的前端离子源,便于RGA和 SNMS 兼容的离子枪/ FAB 枪 成分/污染物分析 深度分析 泄漏检测 与Hiden SIMS 工作站兼容主要特点: 高灵敏度脉冲离子计数检测器,7个数量级的动态范围 SIMS 成像,分辨率在微米以下 光栅控制,增强深度分析能力 45°静电扇形分析器, 扫描能量增量 0.05 eV/ 0.25eV FWHM. 所有能量范围内,离子行程的最小扰动,及恒定离子传输 差式泵3级过滤四极杆,质量数范围至2500amu 灵敏度高 / 稳定的脉冲离子计数检测器 Penning规和互锁装置可提供过压保护 通过RS232、RS485或Ethernet LAN,软件 MASsoft控制

Waters Xevo TQD 三重四极杆质谱

Waters Xevo TQD 三重四极杆质谱

  • 品牌: 美国沃特世
  • 型号: Xevo TQD
  • 产地:美国
  • 供应商:沃特世科技(上海)有限公司

    耐用、稳定而可靠的Xevo TQD沃特世整套UPLC/MS/MS常规定量应用解决方案可确保系统达到最高的灵敏度、选择性和稳定性而且操作简便。借助无与伦比的稳定性使仪器系统的正常运行时间达到最大化加快灵敏稳定的方法的开发速率降低复杂度,提高易用性并确保分析结果始终正确最大限度增加处理量,同时又不会降低数据质量既拥有当今最宽泛的电离能力,又着眼于未来的创新检验借助无与伦比的稳定性使仪器系统的正常运行时间达到最大化快速不间断的分析需要一台能始终给出准确结果的既可靠又稳定的仪器系统。加快灵敏稳定的方法的开发速率您不会再受到与基质效应相关的复杂因素和不确定性的干扰。得益于RADAR™,方法开发成为一种智能化过程,它将定量数据与定性数据相结合以直观显示完整样品,从而在样品制备和色谱方法开发过程中实现了数据导向性决策。在RADAR模式下,您既可监测样本中的基质干扰物、代谢物、杂质和降解产物,同时又可准确对目标化合物定量。确保结果始终正确准备——IntelliStart和Quanpedia可快速对系统进行自动设置和检查,同时自动生成所有的MRM通道,使得系统性能最大化。分析——QCMonitor将主动监控实时数据,当超出用户指定的任何设置限定时采取措施。解读——TargetLynx可自动进行定量分析和结果报告,并能自动标注十分清晰的标记以降低出错几率。决定——TrendPlot使您可直观查看多天、多周或多月内的结果;这为分析数据趋势和长期系统性能提供了宝贵信息。最大限度增加处理量,同时又不会降低数据对UPLC的典型窄峰(峰宽2-3秒)进行准确定量需要较高的采集速度以确保数据质量。不论您在同一方法中只分析一种化合物,还是分析数百种化合物,T-Wave碰撞室均可确保UPLC在色谱分析速度和分离度方面的优势得到充分发挥。永不过时的创新技术Xevo系列的通用离子源结构拥有最广泛的电离技术范围以及刚刚面世的电离技术创新成果。您在试验选项方面将拥有无限选择。当您需要某些选项而又时间紧迫时,可在离子源之间进行快速转换,几分钟即可使用。注意:本页面内容仅供参考,所有资料请以沃特世官方网站(www.waters.com)为准。

AB Sciex API 4000+ ™ LC/MS/MS 系统

AB Sciex API 4000+ ™ LC/MS/MS 系统

  • 品牌: 美国SCIEX
  • 型号: API 4000+
  • 产地:美国
  • 供应商:AB SCIEX公司

    创建质谱定量的黄金标准API 4000+™ 三重四级杆串联质谱系统    行业黄金标准的API 4000+™ LC/MS/MS系统能为药物开发科学家提供全面支持,包括药物研发到临床试验提供高质量的定量分析和定性分析数据。此系统从业界广为认可和考验的API 4000™发展而来,提供更加优异的灵敏度和重现性,并提高整体性能的耐用性,可确保在食品、环境样品中的药物残留痕量分析、刑侦毒物样品分析以及临床研究分析中数据的可靠性。结合功能强大的Analyst®软件,此系统可提供药物开发中对DMPK信息的快速访问。    API 4000+™系统是从进一步提升API 4000™系统的性能发展而来,确保AB SCIEX高性能和稳定耐用的高贵品质。API 000+™系统包括:新设计的真空系统,使整个质谱系统更稳定可靠先进设计的电子系统,确保数据质量创新的Turbo V™离子源—离子化效率高,高灵敏度的定量分析,适应宽范围的液相流速LINAC®碰撞室技术—快速扫描功能专利的气帘接口—降低交叉污染,提高离子化效率可适应液相的高流速性能—降低离子抑制现象,自清洁探头设计,可靠的接口设计为高通量、高效率分析提供了保证可选的DuoSpray™离子源—快速方法开发和增加分析通量可选的PhotoSpray® 离子源—扩展了仪器的应用领域行业标准的视窗分析Analyst® 软件也是GLP认证的工具,也符合21 CFR PART 11法规可选的NanoSpray® 离子源—提高了低流速条件下

TRIPLE QUAD™ 3500质谱系统

TRIPLE QUAD™ 3500质谱系统

  • 品牌: 美国SCIEX
  • 型号: TRIPLE QUAD™ 3500
  • 产地:美国
  • 供应商:AB SCIEX公司

    经典传承的AB SCIEX Triple Quad™ 3500质谱系统  从今天起…助力您实验室的成功您所需要的卓越性能先进设计—高效性能、高效率 每针进样采集更多的化合物—绝对可靠的定量从不丢失色谱峰– 高灵敏度和高质量数据采集方法出色的运行时间–检测更多的样品,提高实验室生产效率,并且维护次数更少快速获得结果- 快速,高通量,简化的数据处理工具服务与支持资源助力您的成功  Triple Quad™ 3500质谱系统具有最优化的性能,并采用先进的设计和电子器件,增强了它的性能。您所期望的AB SCIEX仪器的耐用性和重现性由经典的Turbo V™源和气帘气™接口技术得以实现。一次进样采集更多对MRMs,更节省空间的设计弯曲 LINAC®碰撞池通过更有效的离子聚焦提高灵敏度高压Q0和QJET®离子导入设计兼容快速LC,并实现更广泛的化合物覆盖度快速的eQ™电子系统高重复性和准确度的AcQuRate® 脉冲计数检测器化合物质量范围:5-2000 Da长时间运行脏样品,仍然能获得稳定的结果Turbo V™源和气帘气™接口

二次离子飞行时间质谱

二次离子飞行时间质谱

  • 品牌: 英国Kore
  • 型号: SurfaceSeer
  • 产地:英国
  • 供应商:香港皆能(亚洲)有限公司

    SurfaceSeer :具有高通量分析功能的飞行时间二次离子质谱仪,用于研究样品特定性能的理想工具SurfaceSeer 是Kore公司集多年研发经验生产出独特的仪器,第一次将材料表面分析技术引入到可负担得起的日常常规分析范围中。可在最短的分析时间内生成化学图像,突破常规实验室仪器的极限!SurfaceSeer分析仪采用功能强大的二次离子质谱SIMS技术,结构紧凑,仅需一个标准电源,可放置于任何场所使用。SurfaceSeer应用广泛,是一台高性价比的实验室型材料表面分析仪器。SurfaceSeer相对较低的维护成本和较高的样品分析速度,保证其单个样品分析成本明显低于商业实验室的SIMS。SurfaceSeer是研究人员负担得起的、具有表面成像功能 (可选深度剖析) 的仪器。TOF-SIMS 二次离子质谱仪 (SIMS) 是材料表面分析最重要的技术之一,SIMS可以揭示表面及近表面原子层的化学组成。所获取的信息远超过简单的元素分析,可以识别有机组分的分子结构。TOF-SIMS 的关键功能是原位无损分析表面区域 (静态SIMS)。TOF-SIMS使用扫描脉冲聚焦探头束(成像SIMS)建立无损表面的化学成像。使用其它离子束逐步刻蚀表面,对表面作深度剖析(动态SIMS)。只需极少的样品前处理,极短的时间内就可获得高灵敏度的分析结果 。SurfaceSeer特点l 单层表面信息l 检测所有元素l 识别有机物l 高灵敏度分析l 快速化学成像l 薄膜深度剖析l 设计紧凑l 经济适用,友好的用户界面SurfaceSeer拥有功能强大的样品处理装置提供各种样品支架,可装载不同厚度和直径的样品。SurfaceSeer检测未知样品如同检测已知样品那样简单,对未知样品具有超强的分析性能, 可研究微小区域的表面,并可提取更多的有机样品信息。SurfaceSeer质谱仪可同时分析所有元素及有机物,可消除有机物和元素干扰,使谱图更清晰,检测限更低,能更有效地分析材料样品。 SurfaceSeer所有储存的数据都能用于溯源性分析。数据处理软件允许分析数据和样品的化学构成信息进行全面的交互提取。SIMS拥有的常见材料谱库可帮助识别未知物。SurfaceSeer应用领域:l 表面涂层与处理l 电子元件l 半导体l 电极与传感器l 润滑剂l 催化剂l 粘合剂l 薄膜l 包装材料l 腐蚀研究l 大学教学与科研SurfaceSeer-I能以正负TOF-SIMS模式产生“化学地图”,其分析的空间分辨率约为0。5微米,质量分辨率优于3000(3000以上)。SurfaceSeer-S是以正负TOF-SIMS模式进行分析研究的“利器”,质量分辨率优于2500(2500以上)。详细技术指标,敬请来电咨询!

SAI MiniSIMS alpha二次离子质谱仪

SAI MiniSIMS alpha二次离子质谱仪

  • 品牌: 英国SAI
  • 型号: MiniSIMS alpha
  • 产地:英国
  • 供应商:北京华沛智同科技发展有限公司

    欢乐赛车 MiniSIMS alpha二次离子质谱仪是MiniSIMS系列的入门级仪器。这种高样品量的仪器是开发样品特定性质的理想选择。不论是按照已知标准进行质量控制,还是研究/工艺优化中多种样品的比较分析,该仪器都非常高效。这种情况下,预设分析条件意味着不同的操作者可以获得相同数据。通常情况下,每个样品的分析时间最短5分钟。MiniSIMS alpha二次离子质谱仪可以配置辅助电子探针来分析绝缘性样品。MiniSIMS alpha二次离子质谱仪与MiniSIMS所有性能一样,辅助电子探针可以自动操作,使用方便。宽范围的分析能力每台MiniSIMS alpha二次离子质谱仪都具有三种操作方式:静态表面模式(静态SIMS)、成像模式(成像SIMS)、深度成像模式(动态SIMS)。这不同于其他昂贵的SIMS仪器,那些仪器通常被优化成或者只用于表层的静态分析,或者只用于次表面区域的动态深度分析。

MiniSIMS ToF飞行时间二次离子质谱仪

MiniSIMS ToF飞行时间二次离子质谱仪

  • 品牌: 英国SAI
  • 型号: MiniSIMS ToF飞行时间二次离子质谱仪
  • 产地:英国
  • 供应商:欢乐赛车北京华沛智同科技发展有限公司

    MiniSIMS ToF飞行时间二次离子质谱仪在探测未知样品、研究较小区域的表面特征、从有机样品中获取更多信息方面。性能卓越探测未知样品飞行时间质谱(ToF)的引入使得MiniSIMS的性能跃升到一个新的水平。MiniSIMS ToF飞行时间二次离子质谱仪对未知样品的测定与测量已知组分一样容易,这使得该仪器非常适合研究性应用。在失效分析中,比如污染鉴定,发现的额外细节有助于准确的查明问题的确切原因。创新的设计使得该仪器使用简便、结构紧凑。不仅处理功能强大,仪器操作也进一步简化,在实际分析中,基本不需要操作者的判断。如果需要的话,可存储的完整的三维数据可供有经验的操作者进行进一步评估。高级分析MiniSIMS ToF飞行时间二次离子质谱仪可以同时分析各种元素和有机物质,更有效地利用了样品材料。仪器性能的提高保证了对较小区域特征的全面分析。这种模式下,有机光谱的质量得到了显著提高。这种优势与拓宽的光谱质量范围相结合,获得了更多关于有机材料的详尽信息,便于与数据库中的谱图进行对比分析。MiniSIMS ToF飞行时间二次离子质谱仪同样能够区分常规有机物和元素的干扰,使数据更加清晰,检测限更低。

CAMECA 大型二次离子质谱仪

CAMECA 大型二次离子质谱仪

  • 品牌: 法国Cameca
  • 型号: IMS 1280-HR
  • 产地:法国
  • 供应商:法国cameca公司

    欢乐赛车 IMS 1280-HR是大型磁质谱二次离子质谱仪,具有超高灵敏度,针对地质科学与环境领域广泛的分析需求而专门设计的。在地质学定年、稳定同位素分析、痕量元素以及小粒子分析等方面的分析展现了无与伦比的性能。 K/Ca dating: MR>30,000 (monocollection) Rb/Sr dating: MR>20,000-40,000 (monocollection) Mg & metal isotope ratios: MR>5000 (multicollection) 继承了IMS1280的诸多优势: 灵活多用的多接受系统,尤其适于用于同位素分析。 两种具有反应活性的的一次离子源,在数据采集的同时可对其进行监控。 具有高度再现能力的样品台 NMR高分辨磁场控制 独有的图像功能 完全计算机化自动工作,可远程监控 1280-HR的新增性能: 通过加入一个新的六极靴,对耦合进行了重新设计,减少了轴上二次畸变。 多接受模式下,峰形得到很大的改善。 优化了真空以降低背底,有利于探测轻元素,氢化物。 在单接受模式以及高质量分辨率下,通过静电压跳峰,提高了稳定性 以上仪器的改进增强了高质量分辨率下的的传输型,因此提高了整体性能。 详情参见英文版介绍,不容错过:http://www.cameca.com/instruments-for-research/ims1280.aspx

CAMECA 二次离子质谱仪

CAMECA 二次离子质谱仪

  • 品牌: 法国Cameca
  • 型号: IMS 7f
  • 产地:法国
  • 供应商:法国cameca公司

    CAMECA 二次离子质谱仪(IMS 7f)的主要优势在于其极高的灵敏度、高空间分辨率(亚微米级横向分辨率,纳米级深度分辨率)以及同位素分辨本领。因其 ppb 水平检测极限以及高分析速度和可靠性,IMS 7F 成为遍布全球的众多独立分析实验室的主力军。 CAMECA的SIMS技术领先世界。无与伦比的性能得益于其独有的基于磁扇区原理的仪器设计。 灵敏度:CAMECA IMS 7f 工作是的有效离子产率(useful yields- secondary ion detected per atomsputtered)比四极杆分析器高达100倍。做一次通常的深度剖析或者成像分析,以获得同样灵敏度所用时间相比,是TOF类SIMS的千分之一。(或反过来说,同样的分析时间,TOF SIMS的灵敏度要低达1000倍)。 质量分辨: CAMECA IMS 7f 可以分辨绝大多数质谱中存在的质量干扰,例如,31P与H30Si, 56Fe与28Si or 17O与H16O。这些干扰使得低质量分辨率质谱仪(比如四极杆类型)的探测极限大打折扣。CAMECA的SIMS获得高质量分辨率的同时并不会降低分析速度,这是TOF质谱仪无法做到的。 离子成像:CAMECA IMS 7f 可以对所选质量给出显微镜模式的图像,分辨率达到一微米。从时间上看,这种模式下获得图像的速度比常规的扫描图像模式(microprobe mode)要高几个数量级。这种模式下还可以大大缩短调试设备的时长。 若想获得亚微米级分辨率的图像,CAMECA IMS 7f 需要采用微探针模式,依靠动态光学传输以及高亮离子源达到业界最高水准的灵敏度和分辨率。 高分析效率: A high efficiency optical gate is used to eliminate crater edge effects for combining high sputter rate and high dynamic range in the depth profile mode。 Full computer control of the instrument allowing unattended analyses with different analysis recipe 详情参见英文网站,精彩不容错过:http://www。cameca。com/instruments-for-research/ims7f。aspx

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